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SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI_LOTTO 1 CIG B2EB2EE6C8 DIFFRATTOMETRO A RAGGI X_LOTTO 2 CIG B2EB2EF79B SPETTROMETRO
CPV-Code: 38433000
Abgabefrist:
Typ: ContractAwardNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Consiglio Nazionale delle Ricerche - Istituto per la Microelettronica e Microsistemi
address:
postal_code: 95121
city: Catania - IT
country: IT
email: gare@imm.cnr.it
phone: 0955968211
contact_point: 0955968211 gare@imm.cnr.it
idate: 16. Juni 2025 08:28
udate: 16. Juni 2025 08:28
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00385428-2025
Unterlagen: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00385428-2025
Zuschlagskriterium: quality
Vertrag: None
Prozedur: LocalLegalBasis
Nuts: None
Veröffentlichung: 13.06.2025
Erfüllungsort: Catania - IT
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 TEN-0001
Gewinner ASSING SPA
Datum
Wert 584 950,00 €
Anzahl Angebote 1
Name Los Nr 2 TEN-0002
Gewinner CRISEL INSTRUMNTS SRL
Datum
Wert 584 950,00 €
Anzahl Angebote 1

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