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veröffentlicht Frist Anbieter Summe

21.04.2015

18.05.2015

Fourniture et installation d'un microscope électronique à balayage à canon à émission à effet de champ — AAPC restreint phase candidature. 38511100

Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Los 1 France__Is-sur-Tille__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

135822-2015

France Is-sur-Tille Rasterelektronenmikroskope

12.02.2014

11.03.2014

Le présent avis de marché porte sur la phase de candidature menée dans le cadre d'une procédure d'appel d'offres restreint. Le CEA souhaite acquérir … 38511100

CEA/Saclay Los 1 France__Gif-sur-Yvette__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

047985-2014

France Gif-sur-Yvette Rasterelektronenmikroskope

06.09.2012

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Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ. 38511100

CEA Marcoule Los 1

Gewinner: Carl Zeiss SAS

Angebote: 1

Contract award

282047-2012

F Bagnols-sur-Cèze Rasterelektronenmikroskope

20.04.2012

29.05.2012

Fourniture d'un microscope electronique a balayage a effet de champ. 38511100

CEA Marcoule Los 1 F__Bagnols-sur-Cèze__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

126739-2012

F Bagnols-sur-Cèze Rasterelektronenmikroskope

23.07.2011

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Le marché comprend une tranche ferme composée de la fourniture et de l'installation d'un microscope électronique analytique associé à un système d'an… 38511100

CEA/Saclay Los 1 Le marché comprend une tranche ferme composée de la fourniture et de l'installation d'un microscope électronique analytique associé à un système d'analyse EBSD couplé à l'EDS et d'une tranche optionnelle portant principalement sur la fourniture et l'installation d'une platine de déformation en température ainsi que la maintenance associée à l'ensemble des équipements.

Gewinner: JEOL Europe SAS

Angebote: 1

Contract award

231778-2011

F Gif-sur-Yvette Rasterelektronenmikroskope

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