Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM 38511000

Johannes Gutenberg-Universität Mainz Los 1 Feldemissions (Raster)-Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM

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3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) 38511100

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 Los 1 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 )

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Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspectio… 38511100

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 Los 1 Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

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Rasterelektronenmikroskop 38511100

DHBW Stuttgart Los 1 Rasterelektronenmikroskop

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Desktop-Rasterelektronenmikroskop 38511100

HAWK - Hochschule für Angewandte Wissenschaften und Kunst Hildesheim/Holzminden/Göttingen Los 1 Desktop-Rasterelektronenmikroskop

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OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB) 38511100

Forschungsverbund Berlin e.V. Los 1 OV_LK_Zweistrahlrastermikroskop (Plasma FIB)

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OV_LK_Rasterdurchstrahlungsmikroskop 38511200

Forschungsverbund Berlin e.V. Los 1 OV_LK_Rasterdurchstrahlungsmikroskop

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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Kryo 38511100

Johannes Gutenberg-Universität Mainz Los 1 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Kryo

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Transmissions-Elektronenmikroskop 38511000

Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Los 1 Transmissions-Elektronenmikroskop

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MHH - 3D Röntgenmikroskop 38511200

Medizinische Hochschule Hannover Los 1 MHH - 3D Röntgenmikroskop

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