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Ionenfeinstrahlanlage (FIB-SEM)

Diese Ausschreibung dient der Beschaffung einer Ionenfeinstrahlanlage mit integriertem Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM), wobei der Fokus klar auf der Ionenfeinstrahlfunktionalität liegt und die Elektronenmikroskopie lediglich eine unterstützende Rolle einnimmt. Beschafft werden soll ein Gerät, welches möglichst gut für Nanopatterning-Anwendungen geeignet ist. Analytische Funktionalität ist wünschenswert, aber gegenüber der Strukturfertigung von untergeordneter Bedeutung. Unsere genauen Anforderungen an das Gerät können der Leistungsbeschreibung entnommen werden.
CPV-Code: 38511100
Abgabefrist: 22.09.2022
Typ: VgV
Status: Ausschreibung
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Technische Universität München, TUM Zentrum für QuantumEngineering
address:
postal_code:
city: Garching - DE
country: DE
email: None
phone: None
contact_point:
idate: 13. August 2022 07:42
udate: 13. August 2022 07:42
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://www.dtvp.de/Satellite/public/company/project/CXP4YK0R19G/de/announcements/4617850/Bekanntmachung.pdf
Unterlagen: https://www.dtvp.de/Satellite/public/company/project/CXP4YK0R19G/de/overview?15
Zuschlagskriterium: None
Vertrag: None
Prozedur: VgV
Nuts: None
Veröffentlichung: 13.08.2022
Erfüllungsort: Garching - DE
Link:
Lose:
Name Los Nr 1
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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