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Scanning Electron Microscope

Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.
CPV-Code: 38511000
Abgabefrist:
Typ: ContractAwardNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Itä-Suomen yliopisto
address: Yliopistonranta 1 Kuopio
postal_code: 70210
city: Kuopio - FI
country: FI
email: hankinnat@uef.fi
phone: +358 294451111
contact_point: Hankintapalvelut +358 294451111 hankinnat@uef.fi
idate: 6. August 2025 07:36
udate: 6. August 2025 07:36
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00513551-2025
Unterlagen: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00513551-2025
Zuschlagskriterium: cost
Vertrag: None
Prozedur: None
Nuts: None
Veröffentlichung: 01.01.2000
Erfüllungsort: Kuopio - FI
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 TEN-0001
Gewinner Spectral AB
Datum
Wert 390 000,00 €
Anzahl Angebote None

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