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Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

Leistungsfähiges Zweistrahl-Gerät bestehend aus fokussiertem Ionen-Strahl (Gallium) und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Einsetzbar für weiten Bereich in Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro-und Nano-bereich. (Für Details siehe Specification Documentation).
CPV-Code: 38511100 38000000
Abgabefrist: 09.07.2024
Typ: ContractNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: ETH Zürich ScopeM
address: Otto-​Stern-Weg 3 Zürich
postal_code: 8093
city: Zürich - CH
country: CH
email: publictender@ethz.ch
phone: +41 44 632 11 11
contact_point: Dr. Nicolas Blanc +41 44 632 11 11 publictender@ethz.ch
idate: 4. Juni 2024 07:44
udate: 4. Juni 2024 07:44
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00327803-2024
Unterlagen: http://www.simap.ch/shabforms/servlet/Search?NOTICE_NR=1423923
Zuschlagskriterium: cost
Vertrag: None
Prozedur: None
Nuts: None
Veröffentlichung: 04.06.2024
Erfüllungsort: Zürich - CH
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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