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Scanning Electron Microscope

Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.
CPV-Code: 38511000
Abgabefrist: 02.05.2025
Typ: ContractNotice
Status: None
Aufgabe: None
Vergabestelle:
name: Itä-Suomen yliopisto
address: Yliopistonranta 1 Kuopio
postal_code: 70210
city: Kuopio - FI
country: FI
email: hankinnat@uef.fi
phone: +358 294451111
contact_point: Hankintapalvelut +358 294451111 hankinnat@uef.fi
idate: 2. April 2025 08:34
udate: 2. April 2025 08:34
doc:
authority_types:
activities:
Quelle: https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/00211848-2025
Unterlagen: https://tarjouspalvelu.fi/itasuomenyliopisto?id=552279&tpk=122156f7-d8b0-40ab-973b-5b1a244a1230
Zuschlagskriterium: cost
Vertrag: None
Prozedur: None
Nuts: None
Veröffentlichung: 01.04.2025
Erfüllungsort: Kuopio - FI
Link:
Lose:
Name Los Nr 1 None
Gewinner None
Datum
Wert None
Anzahl Angebote None

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