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veröffentlicht Frist Anbieter Summe

22.06.2017

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Kombiniertes Focused-Ion-Beam-Mikroskop (FIB) – Rasterelektronenmikroskop (SEM) und vierjähriger Wartungsvertrag 38512100

Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V. -Max-Planck-Institut für Festkörperforschung Los 1

Gewinner: FEI Deutschland GmbH

Angebote: 1

Contract award notice

236854-2017

Germany Stuttgart

31.12.1999

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Zweistrahl Mikroskop System (FIB-SEM) 38512100

Max-Planck-Institut für Festkörperforschung Los 1 TEN-0001

Gewinner: FEI Deutschland GmbH

Angebote: 1

ContractAwardNotice

0e91f371-6544-4b5f-aa24-8470c9c800c0

Zweistrahl Mikroskop System (FIB-SEM)

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