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14.11.2023

19.12.2023

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE CON SORGENTE AD EMISSIONE DI CAMPO (FEG-SEM) CORREDATO DA SISTEMA DI MICROANALISI EDS E RIVELATOR… 38511100

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche Los 1 Italy__Catania__Rasterelektronenmikroskope

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Italy Catania Rasterelektronenmikroskope

10.10.2023

13.11.2023

FORNITURA, INSTALLAZIONE E MESSA IN FUNZIONE DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE CON SORGENTE AD EMISSIONE DI CAMPO (FE SEM: FIELD EMISSION SCA… 38511100

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche Los 1 Italy__Catania__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

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Italy Catania Rasterelektronenmikroskope

19.04.2022

25.05.2022

Fornitura, installazione e resa operativa di un “SISTEMA FIB-SEM” (FOCUSED ION BEAM – SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)” - CIG: 91887181F9 38511100

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche Los 1 Italy__Catania__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

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Italy Catania Rasterelektronenmikroskope