Un microscope électronique à balayage en série 38511100

EPFL-Scientific Equipment Los 1

Gewinner: ---

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Hochauflösende Rasterelektronenmikroskop 38511100

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) Vice-présidence académique VPA AVP-CP-ECO Los 1

Gewinner: ---

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Achat d'un cryo-microscope électronique à balayage 38511100

Electron Microscopy Facility Los 1

Gewinner: FEI Europe BV, Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich

Angebote: 2 | Summe: Fr.880 000,00

Achat d'un cryo-microscope électronique à balayage 38511100

Université de Lausanne Los 1 Switzerland__Lausanne__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

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„environmental scanning electron microscope“ (ESEM) speziell für elektrokatalytische Anwendungen 38511100

École polytechnique fédérale de Lausanne, Vice-présidence pour la recherche VPR DAR ECO Los 1

Gewinner: ---

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RasterElektronenMikroskop mit einem Elektronenrückstreubeugung-System und mit einem Energiedispersiven Spektrometer 38511100

École polytechnique fédérale de Lausanne — Vice-présidence pour la recherche VPR DAR ECO Los 1 Switzerland__Neuchâtel__Rasterelektronenmikroskope

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Système Focused Ion Beam — SEM (FIB-SEM). 38511100

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour la recherche VPR DAR ECO Los 1 Switzerland__Lausanne__

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Microscope électronique à balayage (analytical SEM). 38511100

École Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour les affaires académiques Los 1 Switzerland__Lausanne__

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EPFL a l’intention d’acquérir un équipement de microscopie électronique à balayage (SEM) pour son Centre de micro et nano technologie (CMi). Cet équi… 38511100

Center of MicroNanoTechnology (CMi) Los 1 EPFL a l’intention d’acquérir un équipement de microscopie électronique à balayage (SEM) pour son Centre de micro et nano technologie (CMi). Cet équipement sera dédié à la recherche de pointe dans les domaines de la micro et nano-fabrication. Le CMi est une installation salle blanche centrale pour l’ensemble des facultés de l’EPFL ainsi que pour les industriels locaux qui est réservée pour les utilisateurs travaillant dans la micro et nano-fabrication. Nous avons plus de 100 nouveaux utilisateurs par année et approximativement 150 utilisateurs actifs. Le SEM est notre principal outil de métrologie pour la caractérisation en cours de process. Nous avons typiquement 10 à 14 utilisateurs par jour sur notre équipement actuel et l’équipement est utilisé à plus de 80 % du temps disponible. Par conséquent, une grande importance sera accordée non seulement à la qualité de l’imagerie mais également à la flexibilité de l’équipement, à sa facilité d’utilisation, à sa simplicité / rapidité d’apprentissage pour les nouveaux utilisateurs et la vitesse de chargement des échantillons. Au vu des besoins de la faculté des sciences et techniques de l’ingénieur (STI) et des buts du laboratoire CMi, une attention particulière sera placée la caractérisation topologique d’échantillons de micro / nano fabrication dans les domaines de recherche suivants: — matériaux conducteurs et semi-conducteurs, — les profils après gravure plasma, — les matériaux isolants, — les matériaux sensibles au faisceau éle

Gewinner: Gloor Instruments AG

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L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à balayage à haute-résolution qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électro… 38511100

Center of MicroNanoTechnology (CMi) Los 1 L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à balayage à haute-résolution qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électronique (CIME). Ce nouveau microscope servira à étudier la micro et nano-structure ainsi que la composition chimique et la topographie d’échantillon en physique, chimie, sciences des matériaux et biologie. Il sera utilisé par un nombre limité d’utilisateurs expérimentés (~30). Les échantillons qui devront être observes en haute resolution incluent: semiconducteurs, métaux (y compris magnétiques), isolants (tells que céramiques, verres et matériaux composites), matériaux sensibles à l’irradiation (polymères), matériaux biologiques (cellules et tissues après preparation), ansi que des combinaisons de ces divers matériaux. Le microscope doit permettre aux utilisateurs de travailler avec une grande efficacité sur leurs échantillons (grand débit, bonne stabilité). Le besoin d’étudier un grand nombre d’échantillons par session (typiquement 4h) requiert un système avec une bonne stabilité mécanique (drift) et électronique (alignements) ainsi qu’un système EDX efficace et rapide. L’instrument doit permettre de réaliser les opérations grâce à une interface utilisateur intégrée qui puisse être adaptée au niveau de training de l’utilisateur et à ses besoins. Techniques (non exclusivement): Images en SE à faible grandissement: Inspection de la topographie de l’échantillon à faible grandissement avec un détecteur SE Everhard-Thornley standard.

Gewinner: Gloor Instruments AG

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Scanning Electron Microscope (SEM). 38511100

Center of MicroNanoTechnology (CMI) Los 1 CH__Lausanne__Rasterelektronenmikroskope

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Un microscope électronique à balayage en série 38511100

EPFL-Scientific Equipment Los 1 TEN-0000

Gewinner: FR_FEI Europe B.V.

Angebote: 3 | Summe: 520 280,00 €