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Ergebnisse 17

veröffentlicht Frist Anbieter Summe

04.06.2024

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Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM) 38511100

ETH Zürich ScopeM Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

ContractNotice

b9aa2b60-0540-44ab-aac1-ebc3b3eff9c1

Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

08.02.2022

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Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Prototypenentwicklung im Nanometerbereich 38511100

ETH Zürich Abteilung Finanzdienstleistungen Einkaufskoordination Los 1

Gewinner: FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich

Angebote: 3 | Summe: Fr.549 489,00

Contract award notice

070213-2022

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

08.02.2022

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Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Prototypenentwicklung im Nanometerbereich 38511100

ETH Zürich Abteilung Finanzdienstleistungen Einkaufskoordination Los 2

Gewinner: FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich

Angebote: 3 | Summe: Fr.549 489,00

Contract award notice

070213-2022

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

22.11.2021

27.12.2021

Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Prototypenentwicklung im Nanometerbereich 38511100

ETH Zürich Abteilung Finanzdienstleistungen Einkaufskoordination Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

596282-2021

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

23.08.2019

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Scanning Electron Microscope für das Zentrum für Mikroskopie und Bildanalyse 38511100

Universität Zürich, Portfoliomanagement Bedarfsmanagement Los 1

Gewinner: Gloor Instruments AG

Angebote: 1 | Summe: Fr.497 574,00

Contract award notice

399693-2019

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

17.07.2019

22.08.2019

Hochauflösendes Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop 38511100

Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Abt. Finanzdienstleistungen Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

336335-2019

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

22.12.2018

05.02.2019

Scanning Electron Microscope für das Zentrum für Mikroskopie und Bildanalyse 38511100

Universität Zürich, Portfoliomanagement Bedarfsmanagement Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

572081-2018

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

13.01.2016

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Système de micro analyse (extension) pour Microscope électronique à balayage (MEB). 38511100

Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich ScopeM Los 1

Gewinner: Ametek GmbH

Angebote: 3

Contract award notice

010767-2016

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

13.01.2016

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Système de micro analyse (extension) pour Microscope électronique à balayage (MEB). 38511100

Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich ScopeM Los 2

Gewinner: Ametek GmbH

Angebote: 3

Contract award notice

010767-2016

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

18.07.2015

24.08.2015

Système de micro-analyse (extension) pour microscope électronique à balayage (MEB). 38511100

Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Abt. Finanzdienstleistungen Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

253733-2015

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

02.01.2015

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Microscope électronique à balayage à émission de champ. 38511100

Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Chair of Micro and Nanosystems Los 1

Gewinner: Hitachi High-Technologies Europe GmbH

Angebote: 1

Contract award

001286-2015

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

02.01.2015

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Microscope électronique à balayage à émission de champ. 38511100

Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Chair of Micro and Nanosystems Los 2

Gewinner: Hitachi High-Technologies Europe GmbH

Angebote: ---

Contract award

001286-2015

Switzerland Zürich Rasterelektronenmikroskope

01.06.2012

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38511100

Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Institut für Baustoffe Los 1

Gewinner: Dyneos AG

Angebote: 1

Contract award

172151-2012

CH Zürich Rasterelektronenmikroskope

07.03.2012

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38511100

Eidgenössische Technische Hochschule Zürich EMEZ / Electron Microscopy ETH Zürich Los 1

Gewinner: Gloor Instruments AG

Angebote: 1

Contract award

075349-2012

CH Zürich Rasterelektronenmikroskope

15.12.2011

26.01.2012

Integrated Raman/AFM/SNOM. 38511100

Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Institut für Baustoffe Los 1 CH__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

391564-2011

CH Zürich Rasterelektronenmikroskope

15.04.2011

24.05.2011

High Resolution LV-SEM for automatic CLEM applications. 38511100

Eidgenössische Technische Hochschule Zürich EMEZ / Electron Microscopy ETH Zürich Los 1 CH__Zürich__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

121871-2011

CH Zürich Rasterelektronenmikroskope

01.01.2000

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Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM) 38511100

ETH Zürich ScopeM Los 1 TEN-0001

Gewinner: FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich

Angebote: 2 | Summe: 1 259 958,00 €

ContractAwardNotice

86859816-cdf4-4711-ba81-6dfffcd42329

Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)