01.09.2025 |
--- |
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energ…
38511100
Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia
Los 1
Gewinner:
---
Angebote: ---
| Summe:
2 135 000,00 €
|
ContractNotice
8e630d83-a024-454e-a5cc-810090c8bfd7
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
|
16.06.2012 |
--- |
Rastrovací elektrónový mikroskop SEM/EDX, WDX a EBSD mikrosondami s príslušenstvom.
38511100
Ústav geotechniky SAV
Los 1
Gewinner:
Kvant, spol. s r.o.
Angebote:
1
| Summe:
506 998,80 €
|
Contract award
188085-2012
SK
Košice
Rasterelektronenmikroskope
|
06.03.2012 |
10.04.2012 |
None
38511100
Ústav experimentálnej fyziky SAV
Los 1
SK__Košice__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner:
---
Angebote: ---
|
Additional information
072595-2012
SK
Košice
Rasterelektronenmikroskope
|
29.02.2012 |
10.04.2012 |
Rastrovací elektrónový mikroskop SEM/EDX s príslušenstvom.
38511100
Ústav geotechniky SAV
Los 1
SK__Košice__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner:
---
Angebote: ---
|
Contract notice
066481-2012
SK
Košice
Rasterelektronenmikroskope
|
20.01.2012 |
|
Rastrovací elektrónový mikroskop SEM/EDX s príslušenstvom.
38511100
Ústav experimentálnej fyziky SAV
Los 1
SK__Košice__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner:
---
Angebote: ---
|
Prior Information Notice
020713-2012
SK
Košice
Rasterelektronenmikroskope
|
01.01.2000 |
--- |
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energ…
38511100
Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia
Los 1
TPA-0001
Gewinner:
JEOL (Europe) SAS
Angebote:
1
| Summe:
2 237 910,00 €
|
ContractAwardNotice
a70212be-35fc-4c6f-b2c5-384e59f50629
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
|