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Ergebnisse 2

veröffentlicht Frist Anbieter Summe

10.12.2014

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Système Focused Ion Beam pour l'examen de composants de semi-conducteurs et de composants électroniques. 38512100

Eidg. Materialprüfungs – und Forschungsanstalt Empa Los 1

Gewinner: FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich

Angebote: 2

Contract award

419976-2014

Switzerland Dübendorf Ionenmikroskope

13.05.2014

 23.06.2014

Système Focused Ion Beam pour l'examen de composants de semi-conducteurs et de composants électroniques. 38512100

Eidg. Materialprüfungs- und Forschungsanstalt Empa Los 1 Switzerland__Dübendorf__Ionenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

160705-2014

Switzerland Dübendorf Ionenmikroskope

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