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Ergebnisse 22

veröffentlicht Frist Anbieter Summe

05.08.2022

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Plattform zur Nanostrukturierung 38512100

Max-Planck-Institut für Struktur und Dynamik der Materie Los 1

Gewinner: Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH

Angebote: 1 | Summe: 0,01 €

Contract award notice

427865-2022

Germany Hamburg Ionenmikroskope

08.04.2022

25.04.2022

Präzisions-Argon-Ionenstrahlanlage 38512100

Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Abt. Beschaffung, Zahlstelle (K13) Los 1 Germany__Magdeburg__Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Gewinner: ---

Angebote: ---

Additional information

184607-2022

Germany Magdeburg Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

01.04.2022

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Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) 38512100

Philipps-Universität Marburg Los 1

Gewinner: FEI Deutschland GmbH

Angebote: 1 | Summe: 1 588 235,00 €

Contract award notice

169107-2022

Germany Marburg Ionenmikroskope

24.12.2021

25.01.2022

Plasma Focused Ion Beam (PFIB) mit Rasterelektronenmikroskop (SEM) 38512100

Vergabeplattform DTVP Los 1 Germany__Marburg__Ionenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

659946-2021

Germany Marburg Ionenmikroskope

14.12.2021

20.12.2021

Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope 38512100

Universität der Bundeswehr München Los 1 Germany__Neubiberg__Ionenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Additional information

637791-2021

Germany Neubiberg Ionenmikroskope

05.11.2021

06.12.2021

Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope 38512100

Universität der Bundeswehr München Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

564611-2021

Germany Neubiberg Ionenmikroskope

02.11.2021

06.12.2021

Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (M/HSB1/LT627/EIT2.1_MP) 38512100

Universität der Bundeswehr München Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

Dienstleistungen

422442

Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Wartung eines Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (M/HSB1/LT627/EIT2.1_MP)

21.09.2021

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Focus-Ion-Beam-System 38512100

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V. Los 1

Gewinner: TESCAN GmbH

Angebote: 1 | Summe: 0,01 €

Contract award notice

475690-2021

Germany Dresden Ionenmikroskope

02.08.2021

30.08.2021

Focus-Ion-Beam-System 38512100

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V. Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

390678-2021

Germany Dresden Ionenmikroskope

29.06.2021

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Focused Ion Beam (FIB) System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen 38512100

Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e.V. Los 1

Gewinner: FEI Deutschland GmbH

Angebote: 2 | Summe: 329 000,00 €

Contract award notice

325748-2021

Germany Greifswald Ionenmikroskope

07.05.2021

27.05.2021

Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen 38512100

Leibniz-Institut f. Plasmaforschung & Technologie Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

Additional information

229063-2021

Germany Greifswald Ionenmikroskope

28.04.2021

27.05.2021

Focused Ion Beam System zur Präparation von Querschnitten und TEM Lamellen 38512100

Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e. V. Los 1

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

210956-2021

Germany Greifswald Ionenmikroskope

22.05.2020

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Auftragsvergabe zeroK NanoTech 38512100

Technische Universität Kaiserslautern Los 1

Gewinner: zeroK NanoTech

Angebote: 1 | Summe: 1 000 000,00 €

Contract award notice

237036-2020

Germany Kaiserslautern Ionenmikroskope

16.08.2018

11.07.2018

Rasterelektronenmikroskop und ein FIB-REM 38512100

Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe Los 1 Germany__München__Rasterelektronenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Additional information

358323-2018

Germany München Rasterelektronenmikroskope

22.06.2017

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Kombiniertes Focused-Ion-Beam-Mikroskop (FIB) – Rasterelektronenmikroskop (SEM) und vierjähriger Wartungsvertrag 38512100

Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V. -Max-Planck-Institut für Festkörperforschung Los 1

Gewinner: FEI Deutschland GmbH

Angebote: 1

Contract award notice

236854-2017

Germany Stuttgart

05.02.2016

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Lieferung und Inbetriebnahme eines Raster-Ionen-Mikroskops. 38512100

Universität Tübingen, Dezernat V-Finanzen, Abteilung Einkauf Los 1

Gewinner: Carl Zeiss Microscopy GmbH

Angebote: 1

Contract award notice

040117-2016

Germany Tübingen Ionenmikroskope

24.07.2013

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Ionenmikroskop 38512100

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e. V. Los 1 Ionenmikroskop

Gewinner: Carl Zeiss Microscopy GmbH

Angebote: 1

Contract award

247226-2013

Germany Dresden Ionenmikroskope

22.09.2011

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Helium-Ionen Mikroskop. 38512100

Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Los 1

Gewinner: Carl Zeiss NTS GmbH

Angebote: 1 | Summe: 1 500 000,00 €

Contract award

296770-2011

D Eggenstein-Leopoldshafen Ionenmikroskope

18.05.2011

24.05.2011

Helium-Ionen-Mikroskop. 38512100

Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Großforschungsbereich Los 1 D__Eggenstein-Leopoldshafen__Ionenmikroskope

Gewinner: ---

Angebote: ---

Contract notice

155958-2011

D Eggenstein-Leopoldshafen Ionenmikroskope

11.01.2011

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Focused- Ion- Beam (FIB) Mikroskop mit "Multi-Beam"-System. 38512100

Ernst-Moritz-Arndt-Universität Greifswald Los 1

Gewinner: Carl Zeiss NTS GmbH

Angebote: 4 | Summe: 909 160,00 €

Contract award

007450-2011

D Greifswald Ionenmikroskope

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