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| veröffentlicht | Frist | Anbieter | Summe |
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19.06.2018 |
26.07.2018 |
Universität Basel Los 1 Switzerland__Basel__ Gewinner: --- Angebote: --- |
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09.11.2017 |
--- | Ultrahigh Resolution Scanning Electron Microscope. Paul Scherrer Institut, PSI / Purchasing Department Los 1 Gewinner: Hitachi High-Technologies Europe GmbH Angebote: 4 |
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08.07.2017 |
14.08.2017 | Système Focused Ion Beam — SEM (FIB-SEM). Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour la recherche VPR DAR ECO Los 1 Switzerland__Lausanne__ Gewinner: --- Angebote: --- |
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16.05.2017 |
22.06.2017 | Ultrahigh Resolution Scanning Electron Microscope. Paul Scherrer Institut, PSI / Purchasing Department Los 1 Switzerland__Villigen__ Gewinner: --- Angebote: --- |
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23.12.2016 |
26.01.2017 | Microscope électronique à balayage (analytical SEM). École Polytechnique Fédérale de Lausanne Vice-présidence pour les affaires académiques Los 1 Switzerland__Lausanne__ Gewinner: --- Angebote: --- |
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13.01.2016 |
--- | Système de micro analyse (extension) pour Microscope électronique à balayage (MEB). Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich ScopeM Los 1 Gewinner: Ametek GmbH Angebote: 3 |
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13.01.2016 |
--- | Système de micro analyse (extension) pour Microscope électronique à balayage (MEB). Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich ScopeM Los 2 Gewinner: Ametek GmbH Angebote: 3 |
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04.12.2015 |
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Paul-Scherrer-Institut (PSI), strategischer einkauf Los 1 Gewinner: Gloor Instruments AG Angebote: 1 | Summe: Fr.2 131 000,00 |
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05.11.2015 |
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Faculté de médecine de Genève Décanat Los 1 Gewinner: GLOOR Instruments AG Angebote: 1 |
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28.08.2015 |
19.10.2015 |
Faculté de médecine de Genève Décanat Los 1 Switzerland__Genf__Rasterelektronenmikroskope Gewinner: --- Angebote: --- |
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18.07.2015 |
24.08.2015 | Système de micro-analyse (extension) pour microscope électronique à balayage (MEB). Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Abt. Finanzdienstleistungen Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope Gewinner: --- Angebote: --- |
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02.01.2015 |
--- | Microscope électronique à balayage à émission de champ. Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Chair of Micro and Nanosystems Los 1 Gewinner: Hitachi High-Technologies Europe GmbH Angebote: 1 |
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02.01.2015 |
--- | Microscope électronique à balayage à émission de champ. Eidgenössisch Technische Hochschule Zürich Chair of Micro and Nanosystems Los 2 Gewinner: Hitachi High-Technologies Europe GmbH Angebote: --- |
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28.11.2014 |
16.03.2015 |
Paul Scherrer Institut (PSI), Strategischer Einkauf (WTO do not open) Los 1 Switzerland__Villigen__Rasterelektronenmikroskope Gewinner: --- Angebote: --- |
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10.09.2014 |
16.10.2014 | Microscope électronique à balayage à émission de champ. Eidgenössisch Technische Hochschule Zurich Abt. Finanzdienstleistungen Los 1 Switzerland__Zürich__Rasterelektronenmikroskope Gewinner: --- Angebote: --- |
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01.06.2012 |
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Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Institut für Baustoffe Los 1 Gewinner: Dyneos AG Angebote: 1 |
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07.03.2012 |
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Eidgenössische Technische Hochschule Zürich EMEZ / Electron Microscopy ETH Zürich Los 1 Gewinner: Gloor Instruments AG Angebote: 1 |
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15.12.2011 |
26.01.2012 |
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Institut für Baustoffe Los 1 CH__Zürich__Rasterelektronenmikroskope Gewinner: --- Angebote: --- |
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18.08.2011 |
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Center of MicroNanoTechnology (CMi) Los 1 EPFL a l’intention d’acquérir un équipement de microscopie électronique à balayage (SEM) pour son Centre de micro et nano technologie (CMi). Cet équipement sera dédié à la recherche de pointe dans les domaines de la micro et nano-fabrication. Le CMi est une installation salle blanche centrale pour l’ensemble des facultés de l’EPFL ainsi que pour les industriels locaux qui est réservée pour les utilisateurs travaillant dans la micro et nano-fabrication. Nous avons plus de 100 nouveaux utilisateurs par année et approximativement 150 utilisateurs actifs. Le SEM est notre principal outil de métrologie pour la caractérisation en cours de process. Nous avons typiquement 10 à 14 utilisateurs par jour sur notre équipement actuel et l’équipement est utilisé à plus de 80 % du temps disponible. Par conséquent, une grande importance sera accordée non seulement à la qualité de l’imagerie mais également à la flexibilité de l’équipement, à sa facilité d’utilisation, à sa simplicité / rapidité d’apprentissage pour les nouveaux utilisateurs et la vitesse de chargement des échantillons. Au vu des besoins de la faculté des sciences et techniques de l’ingénieur (STI) et des buts du laboratoire CMi, une attention particulière sera placée la caractérisation topologique d’échantillons de micro / nano fabrication dans les domaines de recherche suivants: — matériaux conducteurs et semi-conducteurs, — les profils après gravure plasma, — les matériaux isolants, — les matériaux sensibles au faisceau éle Gewinner: Gloor Instruments AG Angebote: 1 |
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23.07.2011 |
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Center of MicroNanoTechnology (CMi) Los 1 L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à balayage à haute-résolution qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électronique (CIME). Ce nouveau microscope servira à étudier la micro et nano-structure ainsi que la composition chimique et la topographie d’échantillon en physique, chimie, sciences des matériaux et biologie. Il sera utilisé par un nombre limité d’utilisateurs expérimentés (~30). Les échantillons qui devront être observes en haute resolution incluent: semiconducteurs, métaux (y compris magnétiques), isolants (tells que céramiques, verres et matériaux composites), matériaux sensibles à l’irradiation (polymères), matériaux biologiques (cellules et tissues après preparation), ansi que des combinaisons de ces divers matériaux. Le microscope doit permettre aux utilisateurs de travailler avec une grande efficacité sur leurs échantillons (grand débit, bonne stabilité). Le besoin d’étudier un grand nombre d’échantillons par session (typiquement 4h) requiert un système avec une bonne stabilité mécanique (drift) et électronique (alignements) ainsi qu’un système EDX efficace et rapide. L’instrument doit permettre de réaliser les opérations grâce à une interface utilisateur intégrée qui puisse être adaptée au niveau de training de l’utilisateur et à ses besoins. Techniques (non exclusivement): Images en SE à faible grandissement: Inspection de la topographie de l’échantillon à faible grandissement avec un détecteur SE Everhard-Thornley standard. Gewinner: Gloor Instruments AG Angebote: 1 |