22.04.2011 |
30.05.2011 |
Scanning Electron Microscope (SEM).
38511100
Center of MicroNanoTechnology (CMI)
Los 1
CH__Lausanne__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner:
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Angebote: ---
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Contract notice
130544-2011
CH
Lausanne
Rasterelektronenmikroskope
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15.04.2011 |
24.05.2011 |
High Resolution LV-SEM for automatic CLEM applications.
38511100
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich EMEZ / Electron Microscopy ETH Zürich
Los 1
CH__Zürich__Rasterelektronenmikroskope
Gewinner:
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Angebote: ---
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Contract notice
121871-2011
CH
Zürich
Rasterelektronenmikroskope
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01.02.2011 |
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38511100
ETH Zürich Optical Materials Engineering Laboratory
Los 1
Gewinner:
Hitachi High-Technologies Europe GmbH
Angebote:
1
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Contract award
033641-2011
CH
Zürich
Rasterelektronenmikroskope
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01.01.2000 |
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Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)
38511100
ETH Zürich ScopeM
Los 1
TEN-0001
Gewinner:
FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich
Angebote:
2
| Summe:
1 259 958,00 €
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ContractAwardNotice
86859816-cdf4-4711-ba81-6dfffcd42329
Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)
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01.01.2000 |
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Un microscope électronique à balayage en série
38511100
EPFL-Scientific Equipment
Los 1
TEN-0000
Gewinner:
FR_FEI Europe B.V.
Angebote:
3
| Summe:
520 280,00 €
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ContractAwardNotice
4a55f6e3-c3bf-437c-a178-85e58e56dac0
Un microscope électronique à balayage en série
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